[发明专利]一种上行随机接入的签名序列检测方法及装置在审
| 申请号： | 201410814089.5 | 申请日： | 2014-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN105764153A | 公开（公告）日： | 2016-07-13 |
| 发明（设计）人： | 莫建林 | 申请（专利权）人： | 联芯科技有限公司 |
| 主分类号： | H04W74/08 | 分类号： | H04W74/08 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及通信领域，公开了一种上行随机接入的签名序列检测方法及装置。本发明，根据ZC序列的功率延时谱，获取功率延时谱序列；删除功率延时谱序列中的干扰目标回波采样信号，将删除干扰目标回波采样信号后的功率延时谱序列中剩余的来自噪声背景的采样信号进行求和，并将所得到的和作为噪声功率；获取噪声功率门限因子；根据噪声功率及噪声功率门限因子，获取进行签名序列检测的门限，并利用门限进行峰值搜索。本发明实施方式采用基于自动平均删除的噪声功率的估计方法，使得即使在签名序列信号较弱及较多个签名序列信号同时出现的情况下,仍可获得精确的检测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 上行 随机 接入 签名 序列 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种上行随机接入的签名序列检测方法，其特征在于，包含以下步骤：获取功率延时谱序列{znca(τi)}，其中，0≤i≤L‑1，L表示ZC根序列的最大循环移位，Znca(τi)表示功率延时谱序列中第i个采样信号，τi对应于第i个ZC基序列的循环移位；删除功率延时谱序列{znca(τi)}中的干扰目标回波采样信号，将删除所述干扰目标回波采样信号后的功率延时谱序列中剩余的来自噪声背景的采样信号进行求和，并将所得到和作为噪声功率γn；获取噪声功率门限因子Tr；根据所述噪声功率γn及噪声功率门限因子Tr，获取进行签名序列检测的门限Tdet，并利用所述门限Tdet进行峰值搜索。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联芯科技有限公司，未经联芯科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410814089.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种带温控功能的加热装置及其制造工艺
- 下一篇：一种资源分配的方法及装置
