[发明专利]高温超导块材表层临界电流密度不均匀性测量方法及装置有效
| 申请号： | 201410815549.6 | 申请日： | 2014-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN104483530A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 王三胜;贺同福 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R19/08 | 分类号： | G01R19/08 |
| 代理公司： | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人： | 姜荣丽 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高温超导块材表层临界电流密度不均匀性测量方法及装置，属于磁测量技术领域。所述测量装置包括励磁线圈、次级线圈、线圈支架、待测样品平台、锁相放大器、功率放大器、精密电阻和阻抗调节电阻；所述的测量方法首先使待测样品平台、励磁线圈、次级线圈和待测高温超导样品在无磁场状态下完全冷却；然后在每个锁相放大器的输出电压下，通过计算分别得到励磁电流峰值和次级线圈内三次谐波电压峰值；计算待测高温超导样品在某激励磁场强度下的临界电流密度值和穿透深度，并绘制曲线。本发明可以用于测量高温超导块材表层临界电流密度的不均匀性，测量误差范围为10％；可以实现电压信号的测量，其测量精度高达1nV。 | ||
| 搜索关键词： | 高温 超导 表层 临界 电流密度 不均匀 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
高温超导块材表层临界电流密度不均匀性测量装置，其特征在于：所述测量装置包括励磁线圈、次级线圈、线圈支架、待测样品平台、锁相放大器、功率放大器、精密电阻和阻抗调节电阻；所述的精密电阻和阻抗调节电阻均串联在励磁线圈双绞引出线上，所述的励磁线圈双绞引出线与功率放大器的输出端连接，所述锁相放大器的两个输入端分别连接精密电阻电压双绞引出线和次级线圈双绞引出线，锁相放大器输出端连接功率放大器的输入端；其中，励磁线圈绕制在线圈支架上，次级线圈绕置于励磁线圈上，线圈支架固定于待测样品平台的中心孔处，励磁线圈、次级线圈、线圈支架、待测样品平台、待测高温超导样品均放置于液氮容器中。
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