[发明专利]一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法有效
| 申请号： | 201410815901.6 | 申请日： | 2014-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN105891232A | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 张欣;徐军;孙海东 | 申请（专利权）人： | 北京金晶智慧有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958;G01N1/32 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102605 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种可以快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法。其特征在于，在密闭环境中采用腐蚀性蒸汽侵蚀膜层，膜层中缺陷部位和其它部位侵蚀速度不同而显现出不同的外观形貌，从而快速直观判定缺陷的位置和类型。本方法尤其适用于异地可钢产品的缺陷检查，可以省却钢化处理的过程，大大节省缺陷检查的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 检查 大面积 low 镀膜 玻璃 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
一种快速检查大面积Low‑E镀膜玻璃膜层缺陷的方法，其特征在于，采用具有弱腐蚀性的蒸汽侵蚀玻璃镀膜层，膜层中缺陷部位和其它部位侵蚀速度不一样而显现出不同的外观形貌，从而快速直观判定缺陷的位置以及类型。
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