[发明专利]转移衬底的氮化镓基高电子迁移率晶体管制作的方法在审

专利信息
申请号: 201410816561.9 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN104538303A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 纪攀峰;谢海忠;郭恩卿;马平;张韵;王军喜;李晋闽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L21/335 分类号: H01L21/335;H01L21/78
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种转移衬底的氮化镓基高电子迁移率晶体管的制作方法,包括:在衬底上依次生长低温成核层、氮化镓高阻层、高迁移率氮化镓层、氮化铝插入层、铝镓氮势垒层和氮化镓帽层;在氮化镓帽层的表面制备硅、铜或氮化铝的第一导电衬底;将衬底与低温成核层分离;将氮化镓高阻层的表面磨抛平整;在氮化镓高阻层的表面制备硅、铜、氮化铝的第二导电衬底,将氮化镓基高电子迁移率晶体管转移到硅、铜、氮化铝的第二导电衬底上;把通过热压键合或电镀在氮化镓帽层上的第一导电衬底去除掉;在氮化镓帽层上面的两侧制作源、漏的欧姆接触电极;在氮化镓帽层上面的中间制作栅极的肖特基接触电极完成制备。
搜索关键词: 转移 衬底 氮化 镓基高 电子 迁移率 晶体管 制作 方法
【主权项】:
一种转移衬底的氮化镓基高电子迁移率晶体管的制作方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上依次生长低温成核层、氮化镓高阻层、高迁移率氮化镓层、氮化铝插入层、铝镓氮势垒层和氮化镓帽层,形成氮化镓基高电子迁移率晶体管;步骤2:通过热压键合或电镀在氮化镓帽层的表面制备硅、铜或氮化铝的第一导电衬底;步骤3:通过激光剥离工艺,将衬底与低温成核层分离;步骤4:通过机械磨抛的方法,将与衬底分离后,暴露的氮化镓高阻层的表面磨抛平整;步骤5:通过热压键合或电镀工艺在氮化镓高阻层的表面制备硅、铜、氮化铝的第二导电衬底,将氮化镓基高电子迁移率晶体管转移到硅、铜、氮化铝的第二导电衬底上;步骤6:通过机械磨抛或者化学腐蚀的方法,把通过热压键合或电镀在氮化镓帽层上的第一导电衬底去除掉;步骤7:在氮化镓帽层上面的两侧制作源、漏的欧姆接触电极;步骤8:在氮化镓帽层上面的中间制作栅极的肖特基接触电极完成制备。
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