[发明专利]转移衬底的氮化镓基高电子迁移率晶体管制作的方法在审
申请号: | 201410816561.9 | 申请日: | 2014-12-24 |
公开(公告)号: | CN104538303A | 公开(公告)日: | 2015-04-22 |
发明(设计)人: | 纪攀峰;谢海忠;郭恩卿;马平;张韵;王军喜;李晋闽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L21/78 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种转移衬底的氮化镓基高电子迁移率晶体管的制作方法,包括:在衬底上依次生长低温成核层、氮化镓高阻层、高迁移率氮化镓层、氮化铝插入层、铝镓氮势垒层和氮化镓帽层;在氮化镓帽层的表面制备硅、铜或氮化铝的第一导电衬底;将衬底与低温成核层分离;将氮化镓高阻层的表面磨抛平整;在氮化镓高阻层的表面制备硅、铜、氮化铝的第二导电衬底,将氮化镓基高电子迁移率晶体管转移到硅、铜、氮化铝的第二导电衬底上;把通过热压键合或电镀在氮化镓帽层上的第一导电衬底去除掉;在氮化镓帽层上面的两侧制作源、漏的欧姆接触电极;在氮化镓帽层上面的中间制作栅极的肖特基接触电极完成制备。 | ||
搜索关键词: | 转移 衬底 氮化 镓基高 电子 迁移率 晶体管 制作 方法 | ||
【主权项】:
一种转移衬底的氮化镓基高电子迁移率晶体管的制作方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上依次生长低温成核层、氮化镓高阻层、高迁移率氮化镓层、氮化铝插入层、铝镓氮势垒层和氮化镓帽层,形成氮化镓基高电子迁移率晶体管;步骤2:通过热压键合或电镀在氮化镓帽层的表面制备硅、铜或氮化铝的第一导电衬底;步骤3:通过激光剥离工艺,将衬底与低温成核层分离;步骤4:通过机械磨抛的方法,将与衬底分离后,暴露的氮化镓高阻层的表面磨抛平整;步骤5:通过热压键合或电镀工艺在氮化镓高阻层的表面制备硅、铜、氮化铝的第二导电衬底,将氮化镓基高电子迁移率晶体管转移到硅、铜、氮化铝的第二导电衬底上;步骤6:通过机械磨抛或者化学腐蚀的方法,把通过热压键合或电镀在氮化镓帽层上的第一导电衬底去除掉;步骤7:在氮化镓帽层上面的两侧制作源、漏的欧姆接触电极;步骤8:在氮化镓帽层上面的中间制作栅极的肖特基接触电极完成制备。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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