[发明专利]去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统有效
| 申请号： | 201410816820.8 | 申请日： | 2014-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN104586394A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055;G06T5/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散加权图像的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵。本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。 | ||
| 搜索关键词： | 去除 磁共振 弥散 张量 成像 噪声 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种去除磁共振弥散张量成像噪声的方法，其包括：图像数据获取步骤：获取磁共振弥散加权图像所对应的K空间数据；去噪步骤：基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散加权图像的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法由所述K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵；弥散参数计算步骤：基于所述去噪后的弥散张量矩阵，获得弥散参数图。
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