[发明专利]VGA信号相位校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410818122.1 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN104503723B 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 李林 申请(专利权)人: 北京凯视达科技有限公司
主分类号: G06F3/14 分类号: G06F3/14;G09G5/00;H04N5/765
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 杨贝贝,黄健
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种VGA信号相位校正方法及装置。该方法包括将一个采样周期分成N个采样相位;分别依据各采样相位对目标图像进行采样获得采样图像;计算各采样图像对应的导数累加和;将所述导数累加和中最小值对应的所述采样图像的采样相位作为最差采样相位;对所述最差采样相位相移180度获得最佳采样相位。本发明实施例将采样周期分成多个采样相位,依据各采样相位对目标图像进行采样获得采样图像,计算各采样图像对应的导数累加和,将所述导数累加和中最小值对应的所述采样图像的采样相位作为最差采样相位,对所述最差采样相位相移180度获得最佳采样相位,依据确定的最佳采样相位进行采样将保证视频显示设备时刻显示清晰的视频图像。
搜索关键词: vga 信号 相位 校正 方法 装置
【主权项】:
一种VGA信号相位校正方法,其特征在于,包括:将一个采样周期分成N个采样相位,N≥2;分别依据各采样相位对目标图像进行采样获得采样图像;计算各采样图像对应的导数累加和;将所述导数累加和中最小值对应的所述采样图像的采样相位作为最差采样相位;对所述最差采样相位相移180度获得最佳采样相位;其中,所述计算各采样图像对应的导数累加和包括:依据所述采样图像各行中各相邻像素点的像素值差值获得一阶导数矩阵;依据所述一阶导数矩阵各行中各相邻矩阵元素值的差值获得二阶导数矩阵;将所述一阶导数矩阵的所有矩阵元素值相加获得第一累加和sum(D1),将所述二阶导数矩阵的所有矩阵元素值相加获得第二累加和sum(D2);依据所述第一累加和sum(D1)和所述第二累加和sum(D2)获得所述导数累加和C=sum(D1)*weight1+sum(D2)*weight2,weight1,weight2为常数。
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