[发明专利]片上测量系统的共面波导反射幅度标准器及其设计方法在审

专利信息
申请号: 201410818445.0 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN105785299A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 陈婷;刘杰;成俊杰;张国华 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张雪梅
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种用于形成片上测量系统的共面波导反射幅度标准器的设计方法,该共面波导反射幅度标准器包括:电介质衬底、由在所述电介质衬底的表面上形成的中央导体和对称地位于中央导体两侧的第一接地导体和第二接地导体形成的共面波导传输线,该传输线包括位于输入端和输出端的匹配部分和位于其间的失配部分,该方法包括:确定反射幅度标准器的目标测量范围;确定匹配部分的各导体尺寸,基于所确定的匹配部分的各导体尺寸和目标驻波比,计算得到小于匹配部分中央导体的宽度的失配部分中央导体的宽度。
搜索关键词: 测量 系统 波导 反射 幅度 标准 及其 设计 方法
【主权项】:
一种用于形成片上测量系统的共面波导反射幅度标准器的设计方法,该共面波导反射幅度标准器包括:电介质衬底、由在所述电介质衬底的表面上形成的中央导体和对称地位于中央导体两侧的第一接地导体和第二接地导体形成的共面波导传输线,该传输线包括位于输入端和输出端的匹配部分和位于其间的失配部分,该方法包括:确定反射幅度标准器的目标测量范围;确定匹配部分的各导体尺寸,基于所确定的匹配部分的各导体尺寸和该标准器的目标驻波比,假设失配部分第一接地导体和第二接地导体的宽度等于匹配部分第一接地导体和第二接地导体的宽度,利用电磁仿真软件,计算得到失配部分中央导体的宽度,若其小于匹配部分中央导体的宽度则得到该标准器失配部分的各导体尺寸。
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