[发明专利]一种纳米颗粒粒度测量装置及方法在审
| 申请号： | 201410819152.4 | 申请日： | 2014-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN104568683A | 公开（公告）日： | 2015-04-29 |
| 发明（设计）人： | 蔡小舒;周骛;刘丽丽 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种纳米颗粒粒度测量装置及方法，装置由激光源、样品池、透镜、面阵光敏器件和计算机构成，激光源发出的激光束汇聚后照射到样品池中的纳米颗粒，在入射激光照射下样品池中作布朗运动的颗粒产生动态光散射信号，这些信号经过透镜后汇聚，被布置在透镜焦面上的面阵光敏器件相机以Δτ时间间隔记录，获得2幅纳米颗粒运动的动态光散射信号图像信号输送到计算机，由计算机采用相关算法计算这2幅图像的相关系数，根据相关系数的大小，确定纳米颗粒的粒度。本发明的有益效果是极大减少测量时间，测量时间可以达到微秒级，数据处理过程简单，耗时短，总的测量时间可以在毫秒级或微秒级时间内完成。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 颗粒 粒度 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种纳米颗粒粒度测量装置，其特点是，该测量装置由激光源(1)、第一透镜（2）、样品池(3)、第二透镜(4)、面阵光敏器件(5)和计算机（6）构成，激光源（1）发出的激光束经第一透镜（2）汇聚后照射到样品池（3）中的纳米颗粒，在入射激光照射下样品池（3）中作布朗运动的颗粒产生动态光散射信号，这些颗粒的动态光散射信号经过第二透镜（4）后汇聚，被布置在透镜焦面上的面阵光敏器件相机（5）以Δτ时间间隔记录，获得2幅纳米颗粒运动的动态光散射信号图像信号输送到计算机（6），由计算机（6）采用相关算法计算这2幅图像的相关系数，根据相关系数的大小，确定纳米颗粒的粒度。
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