[发明专利]正倒置一体化显微光子学系统

摘要

本发明公开了一种具有共轴、非共轴两种工作模式的正倒置一体化显微光子学系统及应用。采用光学成像技术，在倒置显微镜上方设计、加工并安装正置显微镜系统，使正置部分能够上下、左右、前后移动；上、下两物镜可以选择共轴或者非共轴两种工作模式，因而能够兼具高分辨与大视野的特点，且可实现对长距离传输信号的检测，弥补现有光学显微系统的不足。

主权项

一种具有共轴、非共轴两种工作模式的正倒置一体化显微光子学成像系统的应用，其特征在于，在共轴工作模式下，所述系统用于观测光波矢不发生变化的光学现象；在非共轴工作模式下，所述系统用于对长距离传输的信号进行检测；所述系统包括倒置显微镜和正置显微镜系统，该正置显微镜系统设置在倒置显微镜的上方，该正置显微镜系统包括三维调整机构和固定于该三维调整机构上的正置显微镜；该三维调整机构包括一基座、基座顶端的平台和安装在平台上的三维移动台；所述三维移动台可以在前后、左右、上下三个维度上移动；在该倒置显微镜下方还安装有一显微镜托盘，用于调节倒置显微镜的水平位置及检测平面的高度；检测平台设置在倒置显微镜和正置显微镜之间；其中，在非共轴工作模式下，所述两显微镜的物镜分别用于不同视野的观测，两显微镜的物镜的相对位移为独立的，分别用作光学信号的输入端及输出端，用于对长距离传输的信号进行检测。