[发明专利]永磁材料磁通温度稳定性测量装置及方法在审
| 申请号： | 201410820467.0 | 申请日： | 2014-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN105785291A | 公开（公告）日： | 2016-07-20 |
| 发明（设计）人： | 金国顺;王进东;杨小军;饶晓雷;孙其会;王滢 | 申请（专利权）人： | 北京中科三环高技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京航忱知识产权代理事务所(普通合伙) 11377 | 代理人： | 陈立航 |
| 地址： | 100190 北京市海淀区中*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 提供一种永磁材料磁通温度稳定性测量装置及方法。永磁材料磁通温度稳定性测量装置包括：加热箱体(1)，用于对测试样品(4)进行加热；磁屏蔽(2)，位于所述加热箱体的内部，用于将所述磁屏蔽内部的测试样品与所述磁屏蔽外部隔绝；以及磁通测量线圈(3)，位于所述磁屏蔽的内部。本发明的永磁材料磁通温度稳定性测量装置及方法，能够有效提高磁通不可逆温度损失和磁通可逆温度系数的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 永磁 材料 温度 稳定性 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种永磁材料磁通温度稳定性测量装置，包括：加热箱体(1)，用于对测试样品(4)进行加热；磁屏蔽(2)，位于所述加热箱体的内部，用于将所述磁屏蔽内部的测试样品与所述磁屏蔽外部隔绝；以及磁通测量线圈(3)，位于所述磁屏蔽的内部。
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