[发明专利]一种红外焦平面的多点校正方法及系统在审

专利信息
申请号: 201410822449.6 申请日: 2014-12-25
公开(公告)号: CN104580894A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 马兆峰;黄星明;李晶 申请(专利权)人: 烟台艾睿光电科技有限公司
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232;H04N5/33
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立
地址: 264006 山东省烟*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明属于图像处理技术领域,尤其涉及一种红外焦平面的多点校正方法,包括:步骤1,红外焦平面探测器在工作温度条件下,每隔5℃采集不同温度黑体的图像作为背景图像;步骤2,启动快门,获取快门图像相关参数,并根据背景图像套入如下公式获取快门修正参数:其中,ΔO是快门修正参数,快门图像相关参数包括快门图像Xs与快门图像的均值Bi是第i幅背景图像,是背景图像的均值,Ks是快门图像对应的增益校正参数,是Ks的均值;步骤3,根据快门修正参数ΔO,引入目标图像对应的增益校正参数K与偏置校正参数Bj置校进行两点校正,代入如下公式,计算校正后图像Y,其中,X是预校正的图像,Y是校正后的图像,ΔO是快门修正参数,Bj是第j幅背景图像,K是增益校正参数。
搜索关键词: 一种 红外 平面 多点 校正 方法 系统
【主权项】:
一种红外焦平面的多点校正方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,红外焦平面探测器在工作温度范围内,每隔5℃采集不同温度黑体的图像作为背景图像;步骤2,启动快门,获取快门图像相关参数,并根据背景图像套入如下公式获取快门修正参数:<mrow><mi>&Delta;O</mi><mo>=</mo><mrow><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mi>s</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>B</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mrow><mo>(</mo><msub><mover><mi>X</mi><mo>&OverBar;</mo></mover><mi>s</mi></msub><mo>-</mo><msub><mover><mi>B</mi><mo>&OverBar;</mo></mover><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>&times;</mo><mfrac><mover><msub><mi>K</mi><mi>s</mi></msub><mo>&OverBar;</mo></mover><msub><mi>K</mi><mi>s</mi></msub></mfrac></mrow>其中,ΔO是快门修正参数,Bi是第i幅背景图像,是背景图像的均值,快门图像相关参数包括快门图像Xs与快门图像的均值Ks是快门图像对应的增益校正参数,是Ks的均值;步骤3,根据快门修正参数ΔO,引入目标图像对应的增益校正参数K与偏置校正参数Bj置校进行两点校正,代入如下公式,计算校正后图像Y,其中,X是预校正的图像,Y是校正后的图像,ΔO是快门修正参数,Bj是第j幅背景图像,K是增益校正参数。
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