[发明专利]一种基于网格多级精确度递进式比划识别方法有效
申请号: | 201410822919.9 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN104537343B | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 纪庆革;王新文;严聪;印鉴 | 申请(专利权)人: | 中山大学;广州智海纵横信息科技有限公司;广州中大南沙科技创新产业园有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/68 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 510260 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于网格多级精确度递进式比划识别方法,该方法采集若干个不同的比划并分别对其依次进行重采样规范化、旋转规范化、缩放规范化、平移规范化处理,对处理后的比划进行若干级精确度下拓扑特征向量的提取,最后将原始采集的比划和其特征向量作为一个比划模板存入模板库;用户输入比划A,对比划A依次进行重采样规范化、旋转规范化、缩放规范化、平移规范化处理得到比划A*,对比划A*进行若干级精确度下拓扑特征向量的提取;计算模板库中与提取出的比划A的拓扑特征向量差距最小的比划模板,并将其作为输出识别结果。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 网格 多级 精确度 递进 比划 识别 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于网格多级精确度递进式比划识别方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:建立比划模板库:采集若干个不同的比划并分别对其依次进行重采样规范化、旋转规范化、缩放规范化、平移规范化处理,分别在若干级精确度下对处理后的比划进行拓扑特征向量的提取,最后将原始采集的比划和其特征向量作为一个比划模板来建立比划模板库,其中采集的比划经缩放规范化后被一标准包围框所包围,将该标准包围框分割为若干子网格,标准包围框被分割为不同的子网格数即表示该识别方法的不同级别的精确度,子网格数越多该方法的精确度级别越高;S2:提取待识别的比划特征向量:对用户输入的比划A依次进行重采样规范化、旋转规范化、缩放规范化、平移规范化处理得到比划A*,对比划A*进行若干级精确度下拓扑特征向量的提取,其中提取比划的特征向量的过程如下:S21:令最高精确度下标准包围框被细分为m2个紧密的子网格,Grid[i]口]代表在行优先顺序下的第(i‑1)*m+j个子网格,0≤i≤m,0≤j≤m,将任一网格Gridl[i][j]细分为左上、左下、右上、右下四个区域,同时将比划A*进入该网格的点记为入点a,将比划A*离开该网格的点记为出点b,设置比划A*在该子网格处特征值flagij如下:S211:入点a和出点b均不在该网格中,则A*在该网格的特征值为0x00;S212:入点a和出点b中一点位于左上,一点位于右上,则A*在该网格的特征值为0x0l;S213:入点a和出点b中一点位于左下,一点位于右下,则A*在该网格的特征值为0x02;S214:入点a和出点b中一点位于左上,一点位于左下,则A*在该网格的特征值为0x04;S215:入点a和出点b中一点位于右上,一点位于右下,则A*在该网格的特征值为0x08;S216:入点a和出点b中一点位于左上,一点位于右下,则A*在该网格的特征值为0x10;S217:入点a和出点b中一点位于左下,一点位于右上,则A*在该网格的特征值为0x20;S218:入点a和出点b中一点位于左上,另一点不存在或也位于左上,则A*在该网格的特征值为0x40;S219:入点a和出点b中一点位于左下,另一点不存在或也位于左下,则A*在该网格的特征值为0x80;S220:入点a和出点b中一点位于右上,另一点不存在或也位于右上,则A*在该网格的特征值为0xl00;S221:入点a和出点b中一点位于右下,另一点不存在或也位于右下,则A*在该网格的特征值为0x200;若比划A*的轨迹不止一次跨越一网格,则该格的最后特征值flagij为对多次跨越特征值间取逻辑或操作所得值:flagij=特征值1|特征值2|特征值3……特征值n,其中n为比划轨迹跨越此网格的次数;因此比划A*在最高精度下的特征向量β1,为β1=(flag00,……,flag0(m‑1),flag(m‑1)0,flag(m‑1)(m‑1));S22:将网格精确度重复降低数次并分别提取出此精度下比划A*的拓扑特征向量,此操作迭代n次,最后该比划A的特征向量为:βA=βA*=(β1,…,βi,…,βn);S3:计算得到模板库中与提取出的比划A的拓扑特征向量差距最小的比划模板,并将其作为输出识别结果。
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