[发明专利]出光率高的LED芯片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410826493.4 申请日: 2014-12-25
公开(公告)号: CN104538511A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 吴飞翔;陈立人;李庆;蔡睿彦 申请(专利权)人: 聚灿光电科技股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/20
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 杨林洁
地址: 215123 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种出光率高的LED芯片及其制作方法,其中制作方法包括如下步骤:S1.提供衬底,在衬底上依次制作N型半导体层、发光层以及P型半导体层;S2.在P型半导体层上制作导电层;S3.在导电层上刻蚀mesa图形,并在形成的mesa图形区域中的边缘位置刻蚀沟槽;S4.以刻蚀形成的mesa图形为掩膜对导电层和P型半导体层进行刻蚀,并刻蚀至N型半导体层;S5.在导电层上和暴露出的N型半导体层上沉积保护层;S6.制作P电极和N电极。本发明的LED芯片的制作方法通过优化mesa图形区域的结构,减少了LED芯片照明时产生的侧向光,使得LED芯片发出的光集中从正向发出,提高了LED的发光效率和亮度。
搜索关键词: 出光率高 led 芯片 及其 制作方法
【主权项】:
一种出光率高的LED芯片的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括如下步骤:S1.提供衬底,在所述衬底上依次制作N型半导体层、发光层以及P型半导体层,形成LED晶圆结构;S2.在所述P型半导体层上制作导电层;S3.在所述导电层上刻蚀mesa图形,并在所述形成的mesa图形区域中的边缘位置刻蚀沟槽;S4.以刻蚀形成的mesa图形为掩膜对导电层和P型半导体层进行刻蚀,并刻蚀至N型半导体层;S5.在导电层上和暴露出的N型半导体层上沉积保护层;S6.制作P电极和N电极。
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