[发明专利]标识加工轨迹生成方法及装置在审
| 申请号： | 201410829038.X | 申请日： | 2014-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN104570925A | 公开（公告）日： | 2015-04-29 |
| 发明（设计）人： | 董雪 | 申请（专利权）人： | 北京数码大方科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/18 | 分类号： | G05B19/18 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 李志刚;吴贵明 |
| 地址： | 100094 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种标识加工轨迹生成方法及装置，该标识加工轨迹生成方法包括：获取待加工标识；接收待加工标识的多个参数，其中，多个参数包括背面铣槽参数、正面倒斜边参数和正面切断参数；接收执行指令，其中，执行指令用于指示对多个参数执行一次轨迹生成处理；以及根据待加工标识的多个参数执行一次轨迹生成处理，生成多个加工轨迹，其中，多个加工轨迹为分别对应于多个参数的加工轨迹。通过本发明，解决了生成迷你发光字加工轨迹效率较低的问题，进一步达到了提高生成迷你发光字加工轨迹效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 标识 加工 轨迹 生成 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种标识加工轨迹生成方法，其特征在于，包括：获取待加工标识；接收所述待加工标识的多个参数，其中，所述多个参数包括背面铣槽参数、正面倒斜边参数和正面切断参数；接收执行指令，其中，所述执行指令用于指示对所述多个参数执行一次轨迹生成处理；以及根据所述待加工标识的多个参数执行一次轨迹生成处理，生成多个加工轨迹，其中，所述多个加工轨迹为分别对应于所述多个参数的加工轨迹。
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