[发明专利]光学测量设备有效

专利信息
申请号: 201410836441.5 申请日: 2014-12-26
公开(公告)号: CN104534995B 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 吴顺柏;罗锐;刘朋飞;杜荣钦;刘建华;王刚;高泽润;范小卫;郭明森;仝敬烁;尹建刚;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/06;G01B11/24;G01B11/26;G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518055 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种光学测量设备,包括机柜、定位装置、测量系统和工控系统;其中,机柜上端设有工作台,工作台上设有龙门结构架;定位装置设置在工作台上,用于承载和固定工件,可带动工件在工作台上移动;测量系统安装在龙门结构架上,并且位于定位装置的上方,用于测量工件的内长、内宽、外长、外宽以及特定面的宽度、轮廓度、平面度、平行度和高度差等数据;工控系统设置于机柜之内,用于控制定位装置和测量系统,以及计算分析测量系统反馈的数据。本发明实现了多项目自动化检测,具有精度高、人为干扰因素小、成本低和效率高的特点。
搜索关键词: 光学 测量 设备
【主权项】:
一种光学测量设备,其特征在于:包括机柜,机柜上端设有工作台,工作台上设有龙门结构架;定位装置,设置在工作台上,用于承载和固定工件,可带动工件在工作台上移动;测量系统,安装在龙门结构架上,并且位于所述定位装置的上方,用于测量工件的内长、内宽、外长、外宽以及特定面的宽度、轮廓度、平面度、平行度和高度差;工控系统,设置于机柜之内,用于控制所述定位装置和测量系统,以及计算分析所述测量系统反馈的数据;其中,所述定位装置包括转盘、DD马达以及多个夹具;所述转盘设置在工作台上,其中央开设有通孔;所述DD马达设置在转盘的下端面,其转轴穿设于所述通孔内;所述夹具固定安装在所述转盘的边缘;所述测量系统在每一轮对每个夹具上的工件分别同时进行不同数据的检测;所述夹具的底部均安装有感应装置和至少一个接近开关,分别与工控系统电信号连接;所述感应装置用于让工控系统辨认夹具上是否承载有工件;所述接近开关的信号转换成一个唯一的代码用于标记其所对应的夹具,并被工控系统识别。
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