[发明专利]一种高精度红外热像测温方法及系统有效
| 申请号： | 201410836953.1 | 申请日： | 2015-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN104501969A | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | 姜磊;易尚潭 | 申请（专利权）人： | 浙江兆晟科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10 |
| 代理公司： | 广东国晖律师事务所 44266 | 代理人： | 谭宗成 |
| 地址： | 310023 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高精度红外热像测温方法及系统，通过所述红外焦平面传感器阵列和所述光学机构获取探测区域的灰度图像；获取参考物的温度及灰度图像中参考物灰度图像区域的灰度值；获取灰度图像中待测对象灰度图像区域的灰度值，获取待测对象的第一温度；将待测对象的灰度值与参考物的灰度值相减得到灰度差，根据所述第一温度与图像灰度值的变化关系以及所述灰度差得到温度差；利用所述参考物的温度和所述温度差得到待测对象的温度。本发明的高精度红外热像测温方法及系统，通过基于探测器工作温度及相对测量的方法，获得高精度的红外热像测温，温度测量精度高、测温精度波动小，稳定性高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 红外 测温 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种高精度红外热像测温方法，其特征在于，包括由红外焦平面传感器组成的红外焦平面传感器阵列、光学机构、处理器单元，所述高精度红外热像测温方法包括如下步骤：采集灰度图像：通过所述红外焦平面传感器阵列和所述光学机构获取探测区域的灰度图像，所述灰度图像包括参考物和待测对象的灰度图像；获取参考物的温度及灰度值：获取参考物的温度及灰度图像中参考物灰度图像区域的灰度值；获取待测对象的灰度值及第一温度：获取灰度图像中待测对象灰度图像区域的灰度值，根据当前红外焦平面传感器阵列的工作温度下的定标温度和图像灰度值的对应曲线关系，获取待测对象的第一温度；获取温度差：将待测对象的灰度值与参考物的灰度值相减，得到灰度差，根据所述第一温度与图像灰度值的变化关系以及所述灰度差得到温度差；获取待测对象的温度：利用所述参考物的温度和所述温度差得到待测对象的温度。
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