[发明专利]一种X射线异物检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201410839195.9 申请日: 2014-12-30
公开(公告)号: CN104458776B 公开(公告)日: 2017-07-25
发明(设计)人: 张凯;张昔峰 申请(专利权)人: 合肥美亚光电技术股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230088 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种X射线异物检测装置,包括射线源、探测器、传送带、上位机、测厚装置及升降机构,射线源和探测器位于传送带的上下方,射线源固定在升降机构上,升降机构安装在X射线异物检测装置的基板上,测厚装置设置在X射线异物检测装置的入口前端,上位机与测厚装置连接,测厚装置测得被测物的厚度参数后上传至上位机,上位机通过计算结果控制升降机构的升降,调整射线源的高度。本发明还公开了一种X射线异物检测方法。本发明的优点在于通过实时调整射线源的高度,使得系统的分辨率不随着物体的厚度不同发生变化,始终保持最优分辨率,达到准确检测异物的效果。
搜索关键词: 一种 射线 异物 检测 装置 方法
【主权项】:
一种X射线异物检测装置,包括射线源(10)、探测器、传送带(30)、上位机,被测物(80)在传送带(30)上传送,所述射线源(10)位于传送带(30)的上方,探测器位于传送带(30)的下方,接收射线源(10)发送的信号,其特征在于:还包括测厚装置(40)和升降机构(60),所述射线源(10)固定在升降机构(60)上,升降机构(60)安装在X射线异物检测装置的基板(70)上,所述测厚装置设置在X射线异物检测装置的入口前端,上位机与所述测厚装置(40)及所述升降机构(60)连接,测厚装置(40)测得被测物(80)的厚度参数后上传至上位机,上位机通过计算结果控制所述升降机构(60)的升降,调整射线源(10)相对于传送带的高度,所述升降机构(60)包括升降板(61)、导向机构(62)、丝杠传动机构(63)和驱动电机(601),所述升降板(61)的四角均布导向机构(62),导向机构(62)使升降板(61)只能上下移动,所述驱动电机(601)驱动丝杠传动机构(63),升降板(61)的上下移动由丝杠传动机构(63)实现,所述升降机构还包括第一同步带轮(64)、第一同步带(65)、第二同步带轮(66)、第二同步带(67)、第三同步带轮(68),所述丝杠传动机构(63)对称布置在升降板(61)的两侧,每组丝杠传动机构(63)包括滑动丝杠(632)和螺母(634),驱动电机(601)的输出轴上紧固第一同步带轮(64),两个滑动丝杠(632)的下部分别紧固第二同步带轮(66)、第三同步带轮(68),第一同步带轮(64)和第二同步带轮(66)之间由第一同步带(65)连接,第二同步带轮(66)和第三同步带轮(68)之间由第二同步带(67)连接,驱动电机(601)转动,带动第一同步带轮(64)转动,进而带动第二同步带轮(66)和第三同步带轮(68)转动,从而使动力传送到滑动丝杠(632),滑动丝杠(632)的转动带动升降板(61)的升降。
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