[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201410839667.0 申请日: 2014-12-30
公开(公告)号: CN105810743B 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 方国龙;高逸群;施博理;李志隆;林欣桦 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 汪飞亚
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种薄膜晶体管,包括栅极、栅极绝缘层、通道层、源极以及漏极。所述栅极绝缘层覆盖所述栅极。所述通道层设置于所述栅极绝缘层上与所述栅极相对应的位置。所述源极与漏极形成在所述栅极绝缘层与所述通道层上且分别覆盖所述通道层的两端。所述通道层包括第二导电率区域与二第一导电率区域。所述二第一导电率区域未被所述源极或漏极覆盖并分别位于所述通道层邻近所述源极与漏极的位置。所述第二导电率区域位于所述第一导电率区域的两侧。所述第一导电率区域的导电率低于所述第二导电率区域的导电率。本发明还提供所述薄膜晶体管的制作方法。本发明所提供的薄膜晶体管及其制作方法能够形成没有刻蚀阻挡层的薄膜晶体管,降低薄膜晶体管的厚度。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,所述薄膜晶体管包括栅极、栅极绝缘层、通道层、源极以及漏极,所述栅极绝缘层覆盖所述栅极,所述通道层设置于所述栅极绝缘层上与所述栅极相对应的位置,所述源极与漏极形成在所述栅极绝缘层与所述通道层上且分别覆盖所述通道层的两端,其特征在于,所述通道层包括三个第二导电率区域与两个第一导电率区域,所述两个第一导电率区域未被所述源极或漏极覆盖并分别位于所述通道层邻近所述源极与漏极的位置,所述三个第二导电率区域包括所述通道层被所述源极与漏极覆盖的两个区域以及所述通道层位于所述两个第一导电率区域之间的区域,两个第一导电率区域的导电率相同,三个第二导电率区域的导电率相同,所述第一导电率区域的导电率低于所述第二导电率区域的导电率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410839667.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top