[发明专利]CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法在审
| 申请号： | 201410844154.9 | 申请日： | 2014-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN104484885A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 张文情;刘远华;余琨;邵嘉阳;汤雪飞;郝丹丹 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，包括以下步骤：ATE用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据；将抓取到的YUV格式图像数据存储到一离线文件上；将存储在所述离线文件上的YUV格式图像数据与CIS芯片的预期图像处理结果进行比对；输出比对结果。ATE只需用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据，并与所述CIS芯片设计方提供的预期处理结果进行比对，以此来判断所述CIS芯片的ISP测试是否通过。即利用现有的支持RGB格式的ATE机台即可实现对YUV格式的测试，降低测试成本和风险，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | cis 芯片 yuv 格式 输出 ate 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，包括以下步骤：ATE用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据；将抓取到的YUV格式图像数据存储到一离线文件上；将存储在所述离线文件上的YUV格式图像数据与CIS芯片的预期图像处理结果进行比对；输出比对结果。
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