[发明专利]一种工件光学测试机构在审
申请号: | 201410848448.9 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN104568388A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 陈亿善;薄克艳 | 申请(专利权)人: | 爱彼思(苏州)自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215163 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种工件光学测试机构,包括中空的暗箱,所述暗箱中设有光学测试装置,其特征是,还包括若干传送装置,所述暗箱设置在传送装置的传送方向上,至少有相对处于所述传送方向上游的一侧设置供工件通过的开口,并设有能够打开和封闭所述开口的活动门。设有光学测试装置的暗箱,和传送装置的结合,使得传送装置可以直接将工件输入和输出暗箱进行上料检测和下料,大大提高检测效率,同时由传送装置运载的工件可以直接跟随传送装置到达暗箱中进行检测,无需在暗箱中另外设计定位座,免去了重新定位的麻烦,有助于提高检测精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 工件 光学 测试 机构 | ||
【主权项】:
一种工件光学测试机构,包括中空的暗箱,所述暗箱中设有光学测试装置,其特征是,还包括若干传送装置,所述暗箱设置在传送装置的传送方向上,至少有相对处于所述传送方向上游的一侧设置供工件通过的开口,并设有能够打开和封闭所述开口的活动门。
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