[发明专利]半导体晶片清洗槽在审

专利信息
申请号: 201410849086.5 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN105810555A 公开(公告)日: 2016-07-27
发明(设计)人: 谭鑫;华冠男;张华;陈鹏 申请(专利权)人: 锦州华昌光伏科技有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 锦州辽西专利事务所 21225 代理人: 李辉
地址: 121007 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种半导体晶片清洗槽,包括清洗槽本体,其特殊之处是:所述清洗槽本体侧面下部固设有支撑块,在清洗槽本体内部位于支撑块上设有镂空隔板,所述镂空隔板上设有晶片花篮,所述清洗槽本体内部位于镂空隔板下面设有搅拌轴,所述清洗槽本体上对应支撑块位置设置定位块。该半导体晶片清洗槽结构简单、成本低、使用方便,将晶片花篮放在镂空隔板上,利用搅拌轴上的搅拌杆使液体流动,整个清洗过程中晶片花篮静止,防止清洗过程晶片损坏,从而提高晶片的成品率,避免晶片二次污染。
搜索关键词: 半导体 晶片 清洗
【主权项】:
半导体晶片清洗槽,包括清洗槽本体,其特征是:所述清洗槽本体侧面下部固设有支撑块,在清洗槽本体内部位于支撑块上设有镂空隔板,所述镂空隔板上设有晶片花篮,所述清洗槽本体内部位于镂空隔板下面设有搅拌轴,所述清洗槽本体上对应支撑块位置设置定位块。
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