[发明专利]光电探测器寿命评估试验系统

摘要

本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器脉冲光信号分流到每个光电探测器受试样品上；温度控制试验系统通过温度试验箱对安装在测试工装各个区域的受试样品进行温度控制；电源控制系统通过电源控制模块根据测试工装各个区域的电压分别进行控制，试验监测控制系统通过控制面板对不同区域受试样品进行控制，实时监测受试样品参数，实现对样品参数测试数据的实时采集，监测受试样品的正常状态，FPGA模块将采集到的信息传递给计算机，进行寿命大小和置信度参数的评估。

主权项

一种光电探测器寿命评估试验系统，包括：光控制试验系统、电源控制试验系统、温度控制试验系统、试验监测控制系统和测试工装，其特征在于：测试工装多分区将光电探测器受试样品分为几个区域，光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器脉冲光信号分流到每个光电探测器受试样品上，由光功率计监测光能量的大小；温度控制试验系统通过温度试验箱对安装在测试工装各个区域的受试样品进行温度控制，电源控制系统通过电源控制模块根据测试工装各个区域的电压分别进行控制，试验监测控制系统通过控制面板分别对不同区域的受试样品进行控制，选通电探测器受试样品位置，实现实时监测和数据的实时采集，监测光电探测器受试样品是否正常的状态，同时对探测器施加电应力、光应力和温度应力一种和/或两种应力/或三种应力，并通过多路模拟开关和现场可编程门阵列FPGA模块，将采集到的信息传递给计算机，进行寿命大小和置信度参数的评估。