[发明专利]高通量数字全视场金相原位统计表征分析仪及分析方法在审
| 申请号： | 201410852381.6 | 申请日： | 2014-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN104483317A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 王海舟;贾云海;赵雷;李冬玲;钟振前 | 申请（专利权）人： | 钢研纳克检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 | 代理人： | 张小娟 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于材料性能表征技术领域，具体涉及一种高通量数字全视场金相原位统计表征分析仪及分析方法，该分析仪包括高通量自动进样扫描系统、数字信号处理系统与智能分析系统，其中高通量自动进样扫描系统包括样品台(1)、X轴导轨(2)、Y轴导轨(3)和Z轴导轨(4)、数字信号处理系统包括金相显微镜(5)、CCD数字相机(6)、接口(7)、图像处理装置(8)和照明光源(12)。该分析仪通过获取样品大尺度范围内(cm2级)金相组织的海量原始数字信号实现高通量数据采集，通过对海量原始数字信号的统计分析实现各类金相组织的自动鉴别、自动评级和评价，通过原始数字信号与样品表面点对点的精确对应实现在原始位置上金相组织的定位。 | ||
| 搜索关键词： | 通量 数字 视场 金相 原位 统计 表征 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种高通量数字全视场金相原位统计表征分析仪，其特征在于：该分析仪包括高通量自动进样扫描系统、数字信号处理系统、智能分析系统，其中，高通量自动进样扫描系统包括：样品台(1)、X轴导轨(2)、Y轴导轨(3)和Z轴导轨(4)，其中，样品台(1)固定于X轴导轨(2)上部，X轴导轨(2)下方依次布置Y轴导轨(3)和Z轴导轨(4)，X轴导轨(2)、Y轴导轨(3)分别由X、Y轴驱动器(10)驱动，控制样品台(1)的自动顺序移动，实现多个样品的顺序自动分析；Z轴导轨(4)由Z轴驱动器(11)驱动，移动实现移动过程中的自动对焦功能，Z轴的移动由CCD数字相机(6)产生的信号来控制Z轴驱动器(11)；数字信号处理系统包括：金相显微镜(5)、CCD数字相机(6)、接口(7)、图像处理装置(8)和照明光源(12)，其中，金相显微镜(5)和CCD数字相机(6)通过接口(7)连接，两者固定于样品台(1)的上方，照明光源(12)固定在金相显微镜(5)上，图像处理装置(8)与CCD数字相机(6)连接；智能分析系统(9)与图像处理装置(8)连接，对采集的原始数字信号进行数理统计解析并对金相组织自动鉴别和cm2级范围金相原位统计分布分析表征，也通过数字信号输出样品在全视场范围内的金相组织图像。
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