[发明专利]一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置在审
申请号: | 201410853152.6 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN104573590A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 赵志伟;林魁 | 申请(专利权)人: | 福建联迪商用设备有限公司 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00;G01B5/00 |
代理公司: | 福州市鼓楼区博深专利代理事务所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 林志峥 |
地址: | 350003 福建省福州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及电子支付领域,尤其是涉及一种用于检测磁头的方法及磁卡测试装置。通过在磁卡测试装置上设有磁卡定位槽,用于定位磁卡和判断待测试磁卡的尺寸是否符合要求,若待测试磁卡的尺寸不符合要求,则对于磁卡上所附带信息的磁条是否标准而言就无任何意义,因此需要优先确定待测试磁卡的尺寸是否符合要求;其次,将显影处理的待测试磁卡与POS机及金融刷卡产品磁头进行刷卡,若磁头划过的有效刷卡位置在设置的磁头中心及磁头位置判定标准范围内,即磁头的有效刷卡位置符合要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 磁头 方法 磁卡 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种用于检测磁头的方法,其特征在于,包括以下步骤:S100、将在磁道位置显影处理后的待测试磁卡放置在磁卡测试装置上,所述磁卡测试装置上设有磁卡定位槽,用于定位磁卡;所述磁卡定位槽的尺寸符合标准磁卡尺寸要求;S200、将步骤S100所得待测试磁卡放置在所述磁卡定位槽中,判断所述待测试磁卡的尺寸是否符合标准磁卡尺寸要求,若所述待测试磁卡的尺寸不符合标准磁卡尺寸要求,则所述待测试磁卡为不合格磁卡;若所述待测试磁卡的尺寸符合标准磁卡尺寸要求,则进入步骤S300;S300、所述磁卡测试装置设有磁道测试模块;所述磁道测试模块符合标准磁卡的磁道测试;判断步骤S200所得待测试磁卡的磁道是否符合磁道测试模块的测试要求,若所述待测试磁卡的磁道符合磁道测试模块的测试要求,则所述待测试磁卡为合格磁卡;若所述待测试磁卡的磁道不符合磁道测试模块的测试要求,则所述待测试磁卡为不合格磁卡;S400、将合格的磁卡通过待测试磁头进行刷卡操作,比对磁头划过的位置是否符合标准磁卡的磁道测试要求,若符合标准磁卡的磁道测试要求,则所述待测试磁头为合格磁头。
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