[发明专利]用于先进半导体技术的电迁移验证在审
| 申请号： | 201410854569.4 | 申请日： | 2014-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN105808807A | 公开（公告）日： | 2016-07-27 |
| 发明（设计）人： | 王军;徐靖宇 | 申请（专利权）人： | 新思科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 杨生平;钟锦舜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于对集成电路中的电线的电迁移进行验证的计算机实现方法包括：使用计算机计算电线的IR压降；使用计算机确定所计算IR压降是否小于预定值。在所计算IR压降小于预定值的情况中，该方法包括：保持电线的布局尺寸不变；并且在所计算IR压降大于或等于预定值的情况中，该方法包括修改电线的布局尺寸以减小IR压降。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 先进 半导体 技术 迁移 验证 | ||
【主权项】：
一种用于对集成电路中的电线的电迁移进行验证的计算机实现的方法，所述方法包括：使用计算机计算电线的IR压降；使用计算机确定所计算IR压降是否小于预定值；在所计算IR压降小于预定值的情况中，保持电线的布局尺寸不变；在所计算IR压降大于或等于预定值的情况中，修改电线的布局尺寸以减小IR压降，其中预定值不受电线的电阻系数限定。
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