[发明专利]识别导电粒子压痕的方法

摘要

提供一种识别导电粒子压痕的方法。所述方法包括(A)采集待检测的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像；(B)提取采集的图像的预定类型的图像特征；(C)将提取的预定类型的图像特征输入预先训练好的分类器，从而确定待检测的薄膜晶体管液晶显示屏的基板是否具有导电粒子压痕，其中，利用从正样本集和负样本集提取的所述预定类型的图像特征来训练所述分类器，正样本集包括具有导电粒子压痕的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像，负样本集包括不具有导电粒子压痕的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像。根据所述方法，能够提高识别导电粒子压痕的准确度。

主权项

一种识别导电粒子压痕的方法，其特征在于，包括：(A)采集待检测的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像；(B)提取采集的图像的预定类型的图像特征；(C)将提取的预定类型的图像特征输入预先训练好的分类器，从而确定待检测的薄膜晶体管液晶显示屏的基板是否具有导电粒子压痕，其中，利用从正样本集和负样本集提取的所述预定类型的图像特征来训练所述分类器，正样本集包括具有导电粒子压痕的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像，负样本集包括不具有导电粒子压痕的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像；步骤(B)包括：(B1)在采集的图像上确定至少一个检测窗口；(B2)提取各检测窗口内的图像的预定类型的图像特征，其中，步骤(C)包括：将提取的各检测窗口内的图像的预定类型的图像特征分别输入预先训练好的分类器，从而确定各检测窗口是否具有导电粒子压痕；步骤(B2)包括：(B21)对各检测窗口内的图像进行颜色空间归一化处理；(B22)使用预定微分模板计算各检测窗口内的图像的像素的梯度的大小和方向；(B23)分别将各检测窗口内的图像划分为多个细胞单元，按照预定梯度方向区间基于同一细胞单元内的像素的梯度的大小和方向计算所述同一细胞单元的方向梯度直方图特征；(B24)针对每个检测窗口，将一定数量的细胞单元组成一个块，并对同一块内的细胞单元的方向梯度直方图特征进行归一化处理，以获得所述同一块的方向梯度直方图特征；(B25)将同一检测窗口内的块的方向梯度直方图特征组合成所述同一检测窗口的方向梯度直方图特征；预定微分模板和预定梯度方向区间通过下述方式确定：使用多个不同的微分模板和梯度方向区间的组合从正样本集和负样本集提取方向梯度直方图特征来训练多个不同的分类器；分别使用所述多个不同的分类器对测试样本集进行分类，其中，测试样本集包括具有导电粒子压痕的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像和不具有导电粒子压痕的薄膜晶体管液晶显示屏的基板的图像；确定所述多个不同的分类器中对测试样本集分类准确率最高的分类器；将用于训练确定的分类器的微分模板和梯度方向区间作为预定微分模板和预定梯度方向区间。