[发明专利]一种CCD探测器辐射效应试验装置有效

专利信息
申请号: 201410854882.8 申请日: 2014-12-30
公开(公告)号: CN105806362B 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 王有峰;闫晓军;韩飞;侯建文;梁彦;贺亮 申请(专利权)人: 上海新跃仪表厂
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 冯和纯
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种CCD探测器辐射效应试验装置,包括光电探测板和数据处理板。光电探测板由探测器电路、驱动电路和图像采集电路三部分组成,数据处理板由电源电路和处理器电路两部分组成。本发明解决了CCD探测器在辐射效应模拟试验中数据处理电路受辐照源影响而不能真实测量CCD探测器的光电参数随辐照剂量变化规律的问题,同时利用本发明还能同时对6片CCD探测器进行辐照模拟试验,单次实现CCD探测器不同工作状态下性能参数随辐照剂量变化规律的测量。
搜索关键词: 一种 ccd 探测器 辐射 效应 试验装置
【主权项】:
1.一种CCD探测器辐射效应试验装置,其特征在于,包括:光电探测板和数据处理板;所述光电探测板包括探测器电路、驱动电路和图像采集电路;所述的探测器电路利用电阻、电容设置合理的偏置及退耦,采用射级跟随器将CCD 探测器输出端与后级电路隔离,输出探测器视频信号模拟量;所述的驱动电路将所述数据处理板产生的TTL时序信号转换为满足CCD探测器要求的驱动电平,驱动探测器产生光电信号模拟量;所述的图像采集电路对原始的CCD探测器信号进行处理,通过前级滤波、暗电平钳位、信号放大、相关双采样,降低复位、电源波动及噪声对成像质量的影响,并通过A/D 转换器将CCD探测器输出的模拟量信号转化为数字量信号,传送给所述数据处理板;所述的数据处理板包括电源电路和处理器电路;所述的电源电路实现辐射效应试验装置外接一次电源转化为内部所需的各路二次电源,同时实现装置中二次地线与一次地线的隔离;所述的处理器电路将光电探测板传来的数据通过解算、星图匹配手段转化为用于航天器姿态确定的四元数,采用 DSP+FPGA 的技术架构构建高速数字运算处理电路,FPGA 用于实现逻辑管理、硬件处理、译码、异步通讯转换功能,DSP用于星图识别和星体目标的跟踪,实时解算并输出姿态信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海新跃仪表厂,未经上海新跃仪表厂许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410854882.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top