[发明专利]一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构有效
| 申请号： | 201410857811.3 | 申请日： | 2014-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN104535191A | 公开（公告）日： | 2015-04-22 |
| 发明（设计）人： | 张瑞;张敏娟;李克武;王志斌;王耀利;李晋华;陈媛媛;陈友华 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01J4/04 | 分类号： | G01J4/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 030051 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，属于偏振光谱成像测量结构技术领域；提供一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，该结构完全通过电脑控制磁旋光线圈电压和AOTF的驱动频率实现偏振光谱成像，无运动部件，且只需一个面阵列光电探测器；包括前置望远准直光学模块、磁制旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块、面阵列光电探测器和控制电脑，所述前置望远准直光学模块、磁制旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块和面阵列光电探测器依次放置，所述面阵列光电探测器与控制电脑连接；本发明主要应用在偏振光谱成像测量方面。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光和 aotf 偏振 光谱 成像 测量 结构 | ||
【主权项】：
一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，其特征在于：包括前置望远准直光学模块(1)、磁制旋光调制器(2)、AOTF(7)、挡光板(10)、成像光学模块(11)、面阵列光电探测器(12)和控制电脑(13)，所述前置望远准直光学模块(1)、磁制旋光调制器(2)、AOTF(7)、挡光板(10)、成像光学模块(11)和面阵列光电探测器(12)依次放置，所述面阵列光电探测器(12)与控制电脑(13)连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中北大学，未经中北大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410857811.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
