[实用新型]一种倾斜宽场光切片扫描成像显微系统有效

专利信息
申请号: 201420021659.0 申请日: 2014-01-14
公开(公告)号: CN203705345U 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 于冬梅;匡翠云;毕学卫 申请(专利权)人: 苏州大猫单分子仪器研发有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G02B21/36
代理公司: 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 代理人: 胡思棉
地址: 215000 江苏省苏州市苏州工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型包括激光发射装置,由激光发射装置发射的激光入射二维扫描振镜、准直透镜组及第一显微物镜组成的激光扫描光路对样品台上的样品进行倾斜扫描;第二显微物镜、场镜、探测器组成了成像探测光路,其光轴与激光扫描光路光轴垂直,成像显示控制装置通过数据采集卡、样品台控制装置分别控制二维扫描振镜、第二显微物镜、探测器的同步动作及样品台的自动位移,对采集的探测器成像数据处理形成样品宽场三维图像信息。本实用新型的成像显微系统及成像方法扫描成像速度快,分辨率高,可实现宽场扫描成像。
搜索关键词: 一种 倾斜 宽场光 切片 扫描 成像 显微 系统
【主权项】:
一种倾斜宽场光切片扫描成像显微系统,依次包括激光发射装置、二维扫描振镜、准直透镜组、第一显微物镜、样品台、第二显微物镜、场镜、探测器、数据采集卡及成像显示控制装置;其中,所述二维扫描振镜反射所述激光发射装置产生的激光后经所述准直透镜组聚焦再准直后经所述第一显微物镜倾斜入射放置在所述样品台上的样品形成倾斜入射样品的激光扫描光路;所述准直透镜组包括第一透镜和第二透镜,靠近所述第一显微物镜的所述第二透镜与所述第一显微物镜构成4f光学系统;扫描样品后的出射光依次经所述第二显微物镜、所述场镜后在所述探测器上成像形成成像探测光路;所述激光扫描光路的光轴和所述成像探测光路的光轴垂直;所述第二显微物镜安装在压电片底座上,并可沿成像探测光路的光轴轴向发生位移;所述样品台上的样品被所述激光扫描光路聚焦光斑照亮区域位于所述第二显微物镜的物方焦面上;所述数据采集卡分别与所述激光发射装置、所述二维扫描振镜、所述压电片底座及所述探测器连接,并分别向与其连接的所述各部件发送控制信号控制所述各部件动作;所述样品台与一样品台控制装置连接,所述样品台控制装置控制所述样品台进行三维移动;所述成像显示控制装置分别与所述探测器、所述样品台控制装置、所述数据采集卡连接,并分别向所述探测器、所述样品台控制装置、所述数据采集卡发送设定参数及控制指令;并处理显示样品三维图像信息;当样品为荧光标记的荧光样品时,在所述第二显微物镜与所述场镜之间设置有滤光片。
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