[实用新型]一种利用薄膜干涉法测量细丝杨氏模量的装置

摘要

一种利用薄膜干涉法测量细丝杨氏模量的装置，包括有设激光器和带底座的支架，支架上设下连杆和上连杆，上连杆通过圆环型支架托载读数显微镜，下连杆设有薄膜干涉装置，薄膜干涉装置内设有框架，框架上固定有上光学玻璃片，在框架的底部设置有下光学玻璃片，下光学玻璃片铰链连接在框架上并可以在纵向平面旋转，光学玻璃片固定连接在连接片上，上连杆通过待测细丝与连接片上端相连，连接片通过悬挂绳连接砝码；增减砝码使待测细丝伸缩，待测细丝伸缩带动空气薄膜的倾角改变，改变薄膜干涉条纹的间距，测量增减砝码前后空气薄膜上干涉条纹间距的变化，计算出待测细丝的杨氏模量，具有结构简单，设计巧妙，调节方便的特点。

主权项

一种利用薄膜干涉法测量细丝杨氏模量的装置，包括有设激光器(1)和带底座的支架(5)，其特征在于，支架上由下至上设有下连接杆(4)和上连接杆(17)，上连接杆(17)通过圆环型支架(3)托载读数显微镜(2)，下连接杆（4）前端设有薄膜干涉装置(14)，薄膜干涉装置(14)内设有框架(6)，框架（6）上部固定有上光学玻璃片(7)，在框架(6)的底部设置有与上光学玻璃片（7）在纵向共面的下光学玻璃片(8)，下光学玻璃片(8)的一端通过铰链（12）连接在框架（6）上并可以在纵向平面旋转，下光学玻璃片（8）的另一端固定连接在连接片（13）上且在框架（6）上，在上光学玻璃片（7）和下光学玻璃片（8）之间的空隙为空气薄膜(11)，上连杆（17）通过待测细丝（10）与连接片（13）上端相连，连接片(13)下端通过悬挂绳（9）连接砝码。