[实用新型]点源全息图测距装置有效
申请号: | 201420034754.4 | 申请日: | 2014-01-21 |
公开(公告)号: | CN203759246U | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 赵晓波;王文斌 | 申请(专利权)人: | 杭州先临三维科技股份有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08 |
代理公司: | 北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙) 11296 | 代理人: | 张淑贤 |
地址: | 311215 浙江省杭州市萧山区经*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种点源全息图测距装置,该装置沿着光路前进方向依次设置有半导体激光器(10)、平面反射镜(9)、测量点(1)、透镜(2)、线偏振片(3)、1/4波片(4)、双折射晶体(5)、线偏振片(6)、电子耦合器件(7)以及计算机处理系统(8),所述装置在线偏振片(3)与线偏振片(6)的光轴相互垂直时采集第一全息图,在二者的光轴相互平行时采集第二全息图,根据该第一全息图和第二全息图的差值处理得到测量点(1)的实际距离。本实用新型由于采用了共轴光路测量系统,可以大大增强系统的抗干扰性,具有稳定、高效率及不受被测表面特性影响的特点,可以达到1微米的测量精度,在工业领域具有广泛的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 全息图 测距 装置 | ||
【主权项】:
一种点源全息图测距装置,沿着光路前进方向依次设置有半导体激光器(10)、平面反射镜(9)、测量点(1)、透镜(2)、线偏振片(3)、1/4波片(4)、双折射晶体(5)、线偏振片(6)、电子耦合器件(7)以及计算机处理系统(8),其中: 半导体激光器(10)用于发出激光; 平面反射镜(9)设置在半导体激光器(10)的前方,用于将激光的光路改变至测量点(1)上; 测量点(1)将激光漫反射出; 透镜(2)用于会聚测量点(1)漫反射的光,并将测量点成像在1/4波片(4)之后; 线偏振片(3)设置成偏振方向能够绕系统主轴旋转,用于改变入射光线的偏振方向; 1/4波片(4)设置成其光轴沿竖直方向; 双折射晶体(5)设置成Z轴沿系统主轴方向,y轴沿竖直方向,x‑y面与系统主轴垂直; 线偏振片(6)设置成光轴与竖直方向的夹角为右偏45°,用于改变入射光线的偏振方向; 电子耦合器件7用于采集全息图像信号并发送给计算机处理系统(8); 计算机处理系统(8)用于对所接收的全息图像信号进行处理以得到测量点(1)到透镜的实际距离;其中 所述电子耦合器件7在线偏振片(3)与线偏振片(6)的光轴相互垂直时采集第一全息图,在二者的光轴相互平行时采集第二全息图,所述计算机处理系统(8)根据该第一全息图和第二全息图的差值处理得到测量点(1)的实际距离。
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