[实用新型]一种电阻测量装置有效
申请号: | 201420060984.8 | 申请日: | 2014-02-10 |
公开(公告)号: | CN203705554U | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 冯玉春;郭会斌;刘晓伟;王守坤;郭总杰 | 申请(专利权)人: | 北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/14 | 分类号: | G01R27/14 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种电阻测量装置,用于解决现有技术中由于探针与被测物体表面接触不均或虚接所造成的测量数据不准确的问题,使得每一探针都能够与被测物体表面均匀接触,提高测量的精确度;其中,所述装置包括:电流源,多个探针,用于测量被测物体表面上两个检测点之间的电压的电压表;所述装置还包括与每一个探针对应设置的压力调节结构;且每一所述压力调节结构固定连接于与之对应的探针的不与被测物体接触的一端;在利用所述装置测量被测物体的电阻时,根据检测到的被测物体对探针施加的压力大小,每一压力调节结构带动对应探针进行升降动作,使得被测物体对探针施加的压力大小位于设定的压力范围内。 | ||
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【主权项】:
一种电阻测量装置,所述装置包括:电流源,多个探针,用于测量被测物体表面上两个检测点之间的电压的电压表;其特征在于,所述装置还包括:与每一个探针对应设置的压力调节结构;且每一所述压力调节结构固定连接于与之对应的探针的不与被测物体接触的一端;在利用所述装置测量被测物体的电阻时,根据检测到的被测物体对探针施加的压力大小,每一压力调节结构带动对应探针进行升降动作,使得被测物体对探针施加的压力大小位于设定的压力范围内。
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