[实用新型]电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置有效

专利信息
申请号: 201420074952.3 申请日: 2014-02-21
公开(公告)号: CN203732632U 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 黄卡玛;陈倩;杨阳;刘长军;闫丽萍;赵翔;陈星;郭庆功;杨晓庆 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 成都科海专利事务有限责任公司 51202 代理人: 吕建平
地址: 610065 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种电介物质介电系数微波测量探头及由其构成的测量装置,所述电介物质介电系数微波测量探头包括同轴结构的外导体、内导体及位于内外导体之间的绝缘介质,探头插入待测介电系数物质的测试终端为斜切口结构,另一端设计有使探头接入测量系统的同轴接口。所述物质介电系数微波测量装置,包括以上所述结构的探头和盛装待测介电系数物质的密闭金属容器,所述密闭金属容器由容器罐体和容器罐盖构成,容器罐盖上设计有与探头外导体外柱面相匹配的插入孔。采用由本实用新型构成的微波测量系统测量物质介电系数,解决了现有技术微波测量装置测量物质介电系数精度不高,难以满足宽带在线测量要求的等问题。
搜索关键词: 物质 系数 微波 测量 探头 构成 装置
【主权项】:
一种电介物质介电系数微波测量探头,包括同轴结构的外导体(4)、内导体(2)及位于内外导体之间的绝缘介质(3),其特征在于,探头插入待测介电系数物质的测试终端为斜切口结构,另一端设计有使探头接入测量系统的同轴接口。
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