[实用新型]检查设备和系统有效

专利信息
申请号: 201420096153.6 申请日: 2014-03-04
公开(公告)号: CN203929678U 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 陈志强;张丽;杨戴天杙;黄清萍 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/10 分类号: G01N23/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 100084 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 公开了一种检查设备和系统。该设备包括:分布式射线源,包括多个源点;光源准直器,设置在分布式射线源的射线出束端,将其产生的射线沿着扇形的径线汇聚,形成倒扇形射线束;散射准直器,配置为仅允许射线与被检查物体的相互作用产生的具有一个或多个特定散射角的散射射线通过;至少一个探测器,设置在散射准直器的下游,每个探测器包括多个探测单元,该多个探测单元具备能量分辨能力并且基本上设置在柱面上,以接收通过散射准直器的散射射线;以及处理装置,基于探测器输出的信号计算被检查物体的散射射线能谱信息。上述设备利用具有能量分辨能力的探测器,在固定角度下测量散射X射线的能量分布,获得物质晶格常数,从而分辨物质的种类。
搜索关键词: 检查 设备 系统
【主权项】:
一种检查设备,其特征在于,包括:分布式射线源,包括多个源点,产生射线;光源准直器,设置在分布式射线源的射线出束端,将所述分布式射线源产生的射线沿着扇形的径线汇聚,形成倒扇形射线束;散射准直器,配置为仅允许射线与被检查物体的相互作用产生的具有一个或多个特定散射角的散射射线通过;至少一个探测器,设置在所述散射准直器的下游,每个探测器包括多个探测单元,所述多个探测单元具备能量分辨能力并且基本上设置在柱面上,以接收通过所述散射准直器的散射射线;以及处理装置,基于所述探测器输出的信号计算被检查物体的散射射线能谱信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司,未经清华大学;同方威视技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201420096153.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top