[实用新型]一种TO-39封装功率半导体器件热阻测试装置有效

专利信息
申请号: 201420107234.1 申请日: 2014-03-10
公开(公告)号: CN203773017U 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 温景超;王立新;陆江;韩郑生;周宏宇 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01N25/20
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘杰
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种TO-39封装功率半导体器件热阻测试装置,属于半导体器件测试技术领域。所述装置包括散热基板、TO-39封装平板夹具、耐高温绝缘玻璃管、热偶和热偶插座;散热基板边缘开设有导线引出孔;平板夹具的中心嵌有热偶、边缘安装有热偶插座,热偶与热偶插座电连接;热偶周围分布有器件引脚插孔,器件引脚插孔内壁装有耐高温绝缘玻璃管;平板夹具与散热基板固定连接。本实用新型的热阻测试装置,可科学、合理、准确地测试出TO-39封装功率半导体器件的结壳热阻值,这样不仅能够为评估器件的散热性能提供重要参数指标,而且对于优化功率器件设计、提高器件的可靠性和使用寿命都具有重大意义。
搜索关键词: 一种 to 39 封装 功率 半导体器件 测试 装置
【主权项】:
一种TO‑39封装功率半导体器件热阻测试装置,其特征在于,包括散热基板、TO‑39封装平板夹具、耐高温绝缘玻璃管、热偶和热偶插座;所述散热基板边缘开设有导线引出孔;所述平板夹具的中心嵌有所述热偶、边缘安装有所述热偶插座,所述热偶与热偶插座电连接;所述热偶周围分布有器件引脚插孔,所述器件引脚插孔内壁装有所述耐高温绝缘玻璃管;所述平板夹具与所述散热基板固定连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201420107234.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top