[实用新型]一种TO-39封装功率半导体器件热阻测试装置有效
申请号: | 201420107234.1 | 申请日: | 2014-03-10 |
公开(公告)号: | CN203773017U | 公开(公告)日: | 2014-08-13 |
发明(设计)人: | 温景超;王立新;陆江;韩郑生;周宏宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01N25/20 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种TO-39封装功率半导体器件热阻测试装置,属于半导体器件测试技术领域。所述装置包括散热基板、TO-39封装平板夹具、耐高温绝缘玻璃管、热偶和热偶插座;散热基板边缘开设有导线引出孔;平板夹具的中心嵌有热偶、边缘安装有热偶插座,热偶与热偶插座电连接;热偶周围分布有器件引脚插孔,器件引脚插孔内壁装有耐高温绝缘玻璃管;平板夹具与散热基板固定连接。本实用新型的热阻测试装置,可科学、合理、准确地测试出TO-39封装功率半导体器件的结壳热阻值,这样不仅能够为评估器件的散热性能提供重要参数指标,而且对于优化功率器件设计、提高器件的可靠性和使用寿命都具有重大意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 to 39 封装 功率 半导体器件 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种TO‑39封装功率半导体器件热阻测试装置,其特征在于,包括散热基板、TO‑39封装平板夹具、耐高温绝缘玻璃管、热偶和热偶插座;所述散热基板边缘开设有导线引出孔;所述平板夹具的中心嵌有所述热偶、边缘安装有所述热偶插座,所述热偶与热偶插座电连接;所述热偶周围分布有器件引脚插孔,所述器件引脚插孔内壁装有所述耐高温绝缘玻璃管;所述平板夹具与所述散热基板固定连接。
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