[实用新型]无线感光集成电路功能测试结构有效

专利信息
申请号: 201420112610.6 申请日: 2014-03-12
公开(公告)号: CN203764567U 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 陈贤明;林宽强 申请(专利权)人: 深圳市矽格半导体科技有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/36
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 张明
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种无线感光集成电路功能测试结构,包括机架、进料装置、分料梭装置、测试装置、分类装置及控制系统,其特征在于,所述分料梭装置包括分轨梭及驱动所述分轨梭进行在水平方向移动的第一驱动机构,所述分类装置包括分类梭及驱动所述分类梭在水平方向位移的第二驱动机构,所述测试装置包括至少两条第一导轨。本实用新型实现双座测试工位的同步进行,单轨双测工位能同时负载两台测试主机同时工作,实现生产效率的跨越提升;减少人员的操作、大大提高生产效率。
搜索关键词: 无线 感光 集成电路 功能 测试 结构
【主权项】:
一种无线感光集成电路功能测试结构,包括机架、进料装置、分料梭装置、测试装置、分类装置及控制系统,其特征在于,所述分料梭装置包括分轨梭及驱动所述分轨梭进行在水平方向移动的第一驱动机构,所述分类装置包括分类梭及驱动所述分类梭在水平方向位移的第二驱动机构,所述测试装置包括至少两条第一导轨。
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