[实用新型]光学材料色散高精度测量装置有效
| 申请号： | 201420131316.X | 申请日： | 2014-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN203798731U | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 周佺佺 | 申请（专利权）人： | 成都光明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/43 | 分类号： | G01N21/43 |
| 代理公司： | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 | 代理人： | 蒲敏 |
| 地址： | 610100 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种成本低、结构简单的对光学材料的色散进行高精度测量的装置。光学材料色散高精度测量装置，沿光路依次包括测角仪、透射式光学角规、平面反射镜和测微自准望远镜。本实用新型建立一套由测微自准望远镜和透射式光学角规构成的装置，利用透射式光学角规和测微自准望远镜测量光学材料的色散角以及一般精度的测角仪测量光学材料的顶角和偏向角，然后通过计算得到光学材料的色散值，避免使用高精度大型精密测角仪，从而实现低成本高精度测量光学材料的色散的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 光学材料 色散 高精度 测量 装置 | ||
【主权项】：
光学材料色散高精度测量装置，其特征在于：沿光路依次包括测角仪、透射式光学角规(4)、平面反射镜(6)和测微自准望远镜(7)，所述测角仪包括平行光管(1)和载物台(2)，所述透射式光学角规(4)包括调整转台(5)。
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