[实用新型]磁性材料表面磁场快速测量装置有效
| 申请号： | 201420139860.9 | 申请日： | 2014-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN203786281U | 公开（公告）日： | 2014-08-20 |
| 发明（设计）人： | 张保国 | 申请（专利权）人： | 杭州科德磁业有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/07 | 分类号： | G01R33/07 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 吴秉中 |
| 地址： | 311500 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种磁性材料表面磁场快速测量装置。其特征在于包括高斯计探头、测量支架和导磁锥，高斯计探头设置在测量支架内，导磁锥设置在测量支架上并与高斯计探头相配合；所述导磁锥的上端面放置被测磁性产品，导磁锥的锥尖与高斯计探头上的霍尔元件触接。本实用新型将高斯计探头的霍尔元件固定于导磁锥的锥尖处，无需与被测磁性产品表面紧密接触，降低了霍尔元件的磨损，提高了高斯计探头的使用寿命；同时操作简单高效，只需将被测磁性产品放置于定位块的弧状限位槽内，即可通过高斯计获得被测磁性产品的表面磁场强度读数，提高了效率，可应用与大批量的产品检测。 | ||
| 搜索关键词： | 磁性材料 表面 磁场 快速 测量 装置 | ||
【主权项】：
磁性材料表面磁场快速测量装置，其特征在于包括高斯计探头、测量支架和导磁锥，高斯计探头设置在测量支架内，导磁锥设置在测量支架上并与高斯计探头相配合；所述导磁锥的上端面放置被测磁性产品，导磁锥的锥尖与高斯计探头上的霍尔元件触接。
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