[实用新型]用于提高QWIP-LED光提取效率的二维光子晶体厚膜有效
申请号: | 201420145432.7 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN204230283U | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 侯义合;张冬冬;丁雷;刘加庆;谭婵;朱学谦 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L33/36 | 分类号: | H01L33/36 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本专利公开了一种用于提高QWIP-LED光提取效率的二维光子晶体厚膜结构。该二维光子晶体厚膜是刻蚀在QWIP-LED器件电极层上的有限深空气孔阵列,厚膜的结构参数是针对QWIP-LED发光波长进行优化得到的。厚膜结构的制作是可采用标准的纳米加工技术,工艺简单。该厚膜结构在QWIP-LED器件上的应用,一方面可大幅提升QWIP-LED器件的光提取效率,从而使器件的红外上转换效率得以提高;另外一方面充分保护了器件的电气特性,从而保证了QWIP-LED图像输出功能不受破坏。 | ||
搜索关键词: | 用于 提高 qwip led 提取 效率 二维 光子 晶体 | ||
【主权项】:
一种用于提高QWIP‑LED光提取效率的二维光子晶体厚膜,其特征在于:所述的二维光子晶体厚膜(2)位于QWIP‑LED器件LED一侧的电极层(1)上,覆盖整个发光面;二维光子晶体厚膜(2)采用GaAs材料制作,其结构为正三角形阵列排列的孔状结构,孔的深度为285‑295nm,孔的半径为320nm‑330nm,晶格常数取值范围为700‑720nm。
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