[实用新型]光辐照度测量除杂装置有效

专利信息
申请号: 201420164498.0 申请日: 2014-04-04
公开(公告)号: CN203785786U 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 吴启保 申请(专利权)人: 深圳信息职业技术学院
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 林俭良
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种光辐照度测量除杂装置,用于放置在待测光源和辐照度探头之间,该光辐照度测量除杂装置包括至少三个依次连接的安装筒体、孔径可变的第一光阑以及至少两个第二光阑,第一光阑于待测光源与安装筒体之间连接在安装筒体上,至少两个第二光阑分别连接在至少三个安装筒体之间;自靠近第一光阑的第二光阑到靠近辐照度探头的第二光阑的孔径依序递减。本实用新型通过光阑与安装筒体配合形成测量视场,置于待测光源和辐照度探头之间,使得待测光源的光从光阑和安装筒体内穿过后照射到辐照度探头进行测量,通过安装筒体和光阑的配合阻挡了周边环境干扰光及杂散光等对待测光源的光的干扰,提高待测光源的辐照度测量准确性。
搜索关键词: 辐照 测量 装置
【主权项】:
一种光辐照度测量除杂装置,其特征在于,用于放置在待测光源和辐照度探头之间,该光辐照度测量除杂装置包括至少三个依次连接的安装筒体(10)、孔径可变的第一光阑(20)以及至少两个第二光阑(30),所述第一光阑(20)于所述待测光源与所述安装筒体(10)之间连接在所述安装筒体(10)上,至少两个所述第二光阑(30)分别连接在至少三个所述安装筒体(10)之间;自靠近所述第一光阑(20)的所述第二光阑(30)到靠近所述辐照度探头的所述第二光阑(30)的孔径依序递减。
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