[实用新型]芯片测试装置有效
| 申请号： | 201420220940.7 | 申请日： | 2014-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN203811771U | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 王锐;夏群 | 申请（专利权）人： | 成都先进功率半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人： | 王芸;熊晓果 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括PCB电路板和电源接口，所述PCB电路板上布置若干芯片插座，所述若干芯片插座在PCB电路板上从上至下均匀间隔布置，且该芯片插座包括用于芯片固定的插槽和用于与芯片引脚接触的探针，所述探针位于所述插槽的底部两侧并伸出该芯片插座，所述探针伸出该芯片插座两侧的部分分别连接一电阻，位于该芯片插座一侧的电阻分别接到电源接口的正端，位于该芯片插座另一侧的电阻分别接到电源接口的负端。本实用新型的芯片测试装置使得芯片测试效率大大提高。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试装置，包括PCB电路板和电源接口，其特征在于，所述PCB电路板上布置若干芯片插座，所述若干芯片插座在PCB电路板上从上至下均匀间隔布置，且该芯片插座包括用于芯片固定的插槽和用于与芯片引脚接触的探针，所述探针位于所述插槽的底部两侧并伸出该芯片插座，所述探针伸出该芯片插座两侧的部分分别连接一电阻，位于该芯片插座一侧的电阻分别接到电源接口的正端，位于该芯片插座另一侧的电阻分别接到电源接口的负端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都先进功率半导体股份有限公司，未经成都先进功率半导体股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420220940.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
