[实用新型]一种液晶盒参数的检测设备有效
| 申请号： | 201420222243.5 | 申请日： | 2014-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN203811935U | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 陈魁;王东岳;吴振忠;刘亮;阮小龙;周鸣岐;何基强 | 申请（专利权）人： | 信利半导体有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 516600 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种液晶盒参数的检测设备，包括成像装置和处理装置，使基板上的液晶盒产生牛顿环，而后对牛顿环进行拍摄后传送给处理装置，处理装置对牛顿环的图像进行分析，将牛顿环的图像转化为液晶盒各项参数数据。本实用新型提供的液晶盒参数的检测设备对液晶盒的参数检测过程中，无需人工操作，采用机械自动化设备，不仅节省了人力资源，提高了产能，同时提高了检测的速度和准确性，避免了人工的个体差异性的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶 参数 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种液晶盒参数的检测设备，其特征在于，包括：用于使基板上的液晶盒产生牛顿环，并将所述牛顿环拍摄成像的成像装置；用于接收所述牛顿环的图像，并对所述牛顿环的图像进行数据分析，得到所述液晶盒参数的处理装置。
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