[实用新型]波长片消光曲线测量装置有效

专利信息
申请号: 201420231346.8 申请日: 2014-05-07
公开(公告)号: CN203798542U 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 郑连生 申请(专利权)人: 上海联能光子技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海开祺知识产权代理有限公司 31114 代理人: 李兰英
地址: 201821 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种波长片消光曲线测量装置,它包括暗箱,置于暗箱内的光源,在暗箱内,在光源发射光束前进的方向上依次置有起偏器,置放待测波长片的中心带有转台通光孔的旋转载物台,检偏器,置放检偏器的中心带有转架通光孔的旋转支架,接收器,置于暗箱外的输入端与接收器输出端相连接的信号处理器。本实用新型结构简单,操作方便,能够在线测量多种波长片的消光曲线,即能够在线控制多种波长片的加工厚度,测量误差<0.001nm。
搜索关键词: 波长 片消光 曲线 测量 装置
【主权项】:
一种波长片消光曲线测量装置,其特征至于,它包括暗箱,置于暗箱内的光源,在暗箱内,在光源发射光束前进的方向上依次置有起偏器,置放待测波长片的中心带有转台通光孔的旋转载物台,检偏器,置放检偏器的中心带有转架通光孔的旋转支架,接收器,置于暗箱外的输入端与接收器输出端相连接的信号处理器。
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