[实用新型]膜连接件密封打压测试装置

摘要

本实用新型涉及一种膜连接件密封打压测试装置，在左侧密封盖、右侧密封盖内部分别设有同轴的定位槽；在左侧密封盖内侧设有左内腔，在左侧密封盖的上设有进液接管，并与左内腔相通；右侧密封盖内侧设有右内腔，在右侧密封盖上设有出液接管，出液接管与右内腔相通；在左侧密封盖和右侧密封盖的内端面分别设有法兰盘，法兰盘之间设有密封垫片并通过紧固螺栓紧固。该装置不仅可以对膜连接件密封性能进行测试，直观地检查到密封是否有泄漏，杜绝不合格产品出厂，而且本装置对使用的O型密封圈进行测试，以确定密封圈的使用寿命、老化周期；同时可以对密封圈耐腐蚀、耐温、耐压、抗老化性能进行快捷方便的检测。

主权项

一种膜连接件密封打压测试装置，其特征在于：主要由左侧密封盖（1）、右侧密封盖（2）、紧固螺栓（3）和密封垫片（4）组成；在左侧密封盖（1）、右侧密封盖（2）内部分别设有同轴的定位槽（6）；在左侧密封盖（1）内侧设有左内腔（15），在左侧密封盖（1）的上设有进液接管（5），并与左内腔（15）相通；右侧密封盖（2）内侧设有右内腔（16），在右侧密封盖（2）上设有出液接管（7），出液接管（7）与右内腔（16）相通；在左侧密封盖（1）和右侧密封盖（2）的内端面分别设有法兰盘，法兰盘之间设有密封垫片（4）并通过紧固螺栓（3）紧固。