[实用新型]精密仪器显微硬度测定分析系统有效

专利信息
申请号: 201420340531.0 申请日: 2014-06-24
公开(公告)号: CN203929544U 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 张上荣;李帅帅 申请(专利权)人: 上海钜晶精密仪器制造有限公司
主分类号: G01N3/40 分类号: G01N3/40;G02B21/36
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 王洁;郑暄
地址: 201815 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种精密仪器显微硬度测定分析系统,包括光学镜座、外壳和内置镜座盖板,内置镜座盖板和光学镜座均设置于外壳的内部,光学镜座与外壳固定连接,且内置镜座盖板固定设置于光学镜座的上部,外壳的内部还设置有CCD图像传感器,CCD图像传感器固定设置于内置镜座盖板的上部。采用了该结构的精密仪器显微硬度测定分析系统,CCD传感器进行集成缩小,并设置于外壳的内部,且CCD传感器直接安装在光学镜座上,体积较小,整台设备协调美观,CCD图像传感器与内置镜座盖板螺纹固定,确定了CCD图像传感器的成像焦距,从而保证了实验过程中结构改型后的CCD图像传感器的成像稳定。
搜索关键词: 精密仪器 显微 硬度 测定 分析 系统
【主权项】:
一种精密仪器显微硬度测定分析系统,其特征在于,包括光学镜座、外壳和内置镜座盖板,所述的内置镜座盖板和所述的光学镜座均设置于所述的外壳的内部,所述的光学镜座与所述的外壳固定连接,且所述的内置镜座盖板固定设置于所述的光学镜座的上部。
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