[实用新型]电子元件检测装置及其治具有效
| 申请号： | 201420350320.5 | 申请日： | 2014-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN203949986U | 公开（公告）日： | 2014-11-19 |
| 发明（设计）人： | 黄文荣;温汉威;林承贤;赖俊铭;杨建成;吴荣富;宋胜泰 | 申请（专利权）人： | 泰艺电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人： | 张雅军 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种电子元件检测装置及其治具，所述的电子元件检测装置，适用于一待测电子元件的电性测试，待测电子元件具有多个导电接触部，电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具，测试电路板形成有多个焊接部，治具包括一绝缘本体、多根探针及一锁接组件，绝缘本体形成有一用以供待测电子元件容置的容置槽，及多个与容置槽相连通的贯孔，各探针可移离地穿设于对应的贯孔内，各探针底端焊接于对应的焊接部，各探针顶端抵接于对应的导电接触部，使各探针电连接于对应的焊接部与对应的导电接触部之间，锁接组件可拆卸地将绝缘本体锁固于测试电路板上。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 检测 装置 及其 | ||
【主权项】：
一种电子元件检测装置，适用于一待测电子元件的电性测试，该待测电子元件具有多个导电接触部；其特征在于： 该电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具，该测试电路板形成有多个焊接部，该治具包括一绝缘本体、多根探针，及至少一锁接组件，该绝缘本体，设置于该测试电路板上，该绝缘本体形成有一用以供该待测电子元件容置的容置槽，及多个与该容置槽相连通的贯孔，各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内，各该探针底端焊接于对应的该焊接部，各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部，使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间，该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。
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