[实用新型]一种应力分布测试用应变片阵列有效

专利信息
申请号: 201420355513.X 申请日: 2014-06-27
公开(公告)号: CN203940941U 公开(公告)日: 2014-11-12
发明(设计)人: 薛欢;李荣锋;陈士华;吴立新;葛锐;马玉喜;余立 申请(专利权)人: 武汉钢铁(集团)公司
主分类号: G01L1/22 分类号: G01L1/22
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘杰
地址: 430080 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型属于残余应力测试技术领域,公开了一种应力分布测试用应变片阵列,包括:基板、敏感栅单元阵列、引出线以及覆盖层;所述敏感栅单元阵列为N×M的敏感栅单元阵列;所述呈阵列分布的敏感栅单元尾部与所述引出线相连;所述覆盖层涂覆在所述基板以及所述敏感栅单元阵列上;N和M为大于1的整数。本实用新型通过在同一基板上铺设呈阵列分布的多个敏感栅单元,检测一定范围内的应力分布,大大提升了应力分布的测量精度,简化了测量流程。
搜索关键词: 一种 应力 分布 测试 应变 阵列
【主权项】:
一种应力分布测试用应变片阵列,其特征在于,包括:基板、敏感栅单元阵列、引出线以及覆盖层;所述敏感栅单元阵列铺设在所述基板上;所述敏感栅单元阵列为N×M的敏感栅单元阵列;所述敏感栅单元阵列的任意相邻两行敏感栅单元的间距Dy相等;所述敏感栅单元阵列的任意相邻两列敏感栅单元的间距Dx相等;所述呈阵列分布的敏感栅单元尾部与所述引出线相连;所述覆盖层涂覆在所述基板以及所述敏感栅单元阵列上,其中N、M为大于1的正整数。
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