[实用新型]一种用于检验受试装置的探针系统有效
| 申请号： | 201420356287.7 | 申请日： | 2014-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN204154762U | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 乔治·柯瑞尔思;麦克·菲利皮;史帝文·亚奇;麦克·尚·卡萨帝;奇瑞·吉添卓;恩甘·杜;肯特·恩古言;尤里·皮科史凯;尼尔·莱特 | 申请（专利权）人： | 烽腾科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301 | 代理人： | 潘光兴 |
| 地址： | 美国加州9513*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于检验受试装置的探针系统，以对受试装置进行电性检验。所述系统包括：存储架；探针杆门架总成；探针总成支架，可附装至探针杆门架总成；探针总成，可附装至探针总成支架，并用以与受试装置进行电性配合；以及机械手系统，用于从存储架拾取探针总成并将探针总成递送至附装至探针杆门架的支架。所述机械手系统也能够从附装至探针杆门架的支架拾取探针总成并将探针总成递送至存储架。机械手系统可还用以将探针总成及支架沿探针杆门架总成的长度进行重新定位，以确保探针总成被正确地对齐以实现与受试装置的配合。探针总成可包括接触销阵列，所述接触销阵列用以在探针总成安装于在探针杆门架总成上所安装的支架上时与受试装置上的多个导电焊盘进行配合。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检验 试装 探针 系统 | ||
【主权项】：
一种用于检验受试装置的探针系统，其特征在于，所述探针系统包括： a.存储架； b.探针杆门架总成； c.支架，附着至所述探针杆门架； d.探针总成，可附装至所述支架，并用以与所述受试装置进行电性配合；以及 e.机械手系统，用以从所述存储架拾取所述探针总成并将所述探针总成递送至附装至所述探针杆门架的所述支架，所述机械手系统还用以从附装至所述探针杆门架总成的所述支架拾取所述探针总成并将所述探针总成递送至所述存储架。
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