[实用新型]一种PCB电气性能测试治具有效
| 申请号： | 201420377859.X | 申请日： | 2014-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN204086307U | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 夏述文 | 申请（专利权）人： | 竞华电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 陈健 |
| 地址： | 518104 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型适用于PCB板技术领域，提供了一种PCB电气性能测试治具，包括若干上下间隔设置的面板、位于相邻两面板之间的垫圈、穿设于面板及垫圈内的支撑杆、以及穿设于面板间的探针；相邻垫圈之间具有相互配合凸凹结构，每一面板上对应凸凹结构的位置处设有安装孔，凸结构穿设于相邻面板的安装孔中。本实用新型测试治具的每一垫圈上设有与相邻垫圈相互配合凸凹结构，每一面板上对应凸凹结构的位置处设有安装孔，垫圈上的凸结构穿设于相邻面板的安装孔中，通过垫圈上的凸凹结构的配合，可实现相邻两层面板的稳固连接，有效地防止治具在测试PCB过程中发生移动，从而避免误测的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcb 电气 性能 测试 | ||
【主权项】：
一种PCB电气性能测试治具，包括若干上下间隔设置的面板、位于相邻两面板之间的垫圈、穿设于所述面板及垫圈内的支撑杆、以及穿设于所述面板间的探针；其特征在于，相邻垫圈之间具有相互配合凸凹结构，每一面板上对应所述凸凹结构的位置处设有安装孔，所述凸结构穿设于相邻面板的安装孔中。
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