[实用新型]一种阵列插脚器件测试座

摘要

本实用新型涉及一种阵列插脚器件测试座，包括上盖、底座。上盖包括上基板，上基板上设有与待测阵列插脚器件的各插脚的位置分别对应的若干穿孔，以供各插脚穿过；底座包括下基板，下基板上设有与若干穿孔位置对应的若干测试孔，每一测试孔中均设有测试弹片。上盖可沿水平方向在第一位置和第二位置之间来回移动地安装于底座上侧，以使插脚穿过穿孔、并穿过到对应位置的测试孔内的部分接触或远离对应位置的测试弹片。该实用新型采用插脚与测试弹片单边侧面接触的方法对待测试阵列插脚器件进行导通测试，提升了阵列插脚器件测试座的使用寿命；结构简单，可对各测试弹片单独更换，不用整体连底座一起更换，减少环境污染，同时节约了成本。

主权项

一种阵列插脚器件测试座，其特征在于，包括上盖（10）、底座（20），所述上盖（10）包括上基板（11），所述底座（20）包括下基板（21）； 所述上基板（11）上设有与待测阵列插脚器件（40）的各插脚（41）的位置分别对应的若干穿孔（111），以供各所述插脚（41）穿过；所述下基板（21）上设有与所述若干穿孔（111）位置对应的若干测试孔（211），每一所述测试孔（211）中均设有测试弹片（212）；所述上盖（10）可沿水平方向在第一位置（A）和第二位置（B）之间来回移动地安装于所述底座（20）上侧，以使所述插脚（41）穿过所述穿孔（111）、并穿过到对应位置的所述测试孔（211）内的部分接触或远离对应位置的所述测试弹片（212）。